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전체게시물 총 60건 검색 제목 내용 제목+내용 작성자 전체CleaningDiffusionEpitaxyEtchingLithographyMeasurement & AnalysisThin film후공정기타 장비 장비이름 [Measurement & Analysis]LED Measurement Set 1.특징 ? Wavelength Range : 380~780 nm ? Optional Wavelength : consult factory ? Wavelength Accuracy : ±0.5nm ? Current : 0~3A ? Voltage : 0~60V ? LED wafer level 측정용 제작사 Optronic Laboratories, Inc. 모델명 700-30 도입연도 2004-03-10 용도 LED 웨이퍼레벨 광출력 측정 장비 장비이름 [Measurement & Analysis]Digital Oscilloscope ? Acquisition Channel : 2Ch(Optical) 4Ch(Electrical) ? Waveform Acquisition Rate : 150Ks/s ? Record Length : 4000 points ? Vertical Resolution : 14 bits over the sampling module. ? Timebase Jitter : 800fs (200fs with phase ref. module) ? OS System & Display : Window XP & 8.4 inch LCD ? All Optical ModuleEffectiveWavelengthRange:700-1650nm ? Included data filter rates : 13 filter 제작사 Tektronix 모델명 DSA8200 도입연도 2008-04-30 용도 RF 장비로부터 발생하는 다양한 신호의 계측 장비이름 [Measurement & Analysis]BER Tester 1. OperationFrequencyRange:100Mto12.5bps 2. Data input ? Input waveform : NRZ ? Input amplitude : 0.1 to 2.0 Vp-p ? Threshold voltage variable range : -3.5 to +3.3Vp-p(1mV steps) ? Phase margin : ?60ps(typical value at 12.5 Gb/s PRBS 231-1) ? Input Sensitivity : 10mVp-p ? Termination : 50ohm ? Termination voltage : -2.5 to 3.5V/10 mV step ? Connector : SMA 3. Clock input ? Input waveform : Rectangular wave(<0.5GHz) Rectangular or sine wave (≥0.5GHz) ? Input voltage : 0.25 to 2.0Vp-p ? Termination Voltage : -2.5 to 3.5V/ 10mV step ? Connector : SMA 4.Receive Pattern ? Pseudorandom binary sequence pattern(PRBS) - Pattern : 2n-1(n:791115202331) - Mark ratio : 1/2 1/4 1/8 0/8(3/4 7/8 8/8 are possible with logic inversion) ? Data pattern length : 2 to 134217728 bits/CH ? Zero substitution pattern - zero bit length : 1 to (pattern length-1) bit - pattern length: 2n(n:7911152023) ? Detection Item: Total Error Insertion Error Omission Error Transition Error Non-Tran 제작사 Anritsu 모델명 모델명 없음 도입연도 2008-04-30 용도 비트 에러 레이트 측정 장비이름 [Measurement & Analysis]LD Tester 특징 1) 칩 및 TO-패키지 TOSA DC 측정 2) 레이저 다이오드의 전류에 따른 광파워-전압특성곡선 (Light-Current-Voltage Curve) 3) 레이저 다이오드의 전류와 온도에 따른 광파워-전압특성곡선 (Light Power-Current-Voltage-Temp. Curve) 4) 레이저 광의 파장특성 (SMSR half-width evaluation WDM waveform) 5) 넓은 파장범위내의 특성평가 가능 (600nm~1700nm) 6) 광 펄스 특성 7) 원거리 빔 형태 특성 및 분석 (빔 형태 빔 사이즈) 8) 레이저 빔의 편광 측정 : Piece 2" ~ 6" 9) 장비 조절 : 반자동 동작 이상 Component (구성품의 종류 및 수량) - Semiconductor Characterization System - 6“ Manual Probe station(Temperature Controller 포함) - Optical Power meter & Detector - OSA (Optical Spectrum Analyzer) - Laser Beam Profiler (Far Field Pattern) - Polarization Filter - Optical Component 제작사 일렉스 모델명 LD Tester 도입연도 2007-02-13 용도 레이저 다이오드의 전류에 따른 광파워-전압특성곡선 장비이름 [Measurement & Analysis]Pulse Pattern Generator 특징 1) Operating Bit rate : 100M to 12.5 Gbps 2) Pattern -Pseudorandom binary sequence pattern -Pattern : 2n- 1 (n: 7 9 11 15 20 23 31) -Mark ratio : 1/2 1/4 1/8 0/8 (3/4 7/8 8/8 are possible with logic inversion) -Data pattern length : 2 to 134217728 bits/ch -Sequence Pattern-BLOCK Count : 1 to 128 -Block length: 8192 to 1048576 bits Steps:128bits -Loop count :1to1024times Repeat -Block Transition Conditions: A pattern match B pattern match Manual Loop Time complete External trigger (rising edge) -Next destination : Specified Block No or Stop 3) Data output - Number of Outputs : 2(Data/Data) - Amplitude : 0.25 to 2.5Vp-p - Offset voltage : VoH : -2 to +3.3V 1mV steps - Rise/fall time : ≤28ps(20% to 80%) typical - Pattern jitter : ?10ps max. - Load impedance : 50 ohm - Connector : SMA or K - Phase setting range: -1 to +1UI steps: 1mUI 4) Clock output - Number of outputs : 22(Clock/Clock) - Amplitude : 0.25V to 0.9V max. - Rise/fall time : ≤30ps(20% to 80% of amplitude) tipical - Connector : SMA or K 제작사 ANRITSU 모델명 ANRITSU 도입연도 2008-04-30 장비이름 [Measurement & Analysis]Semiconductor Tester(Curve Tracer) ? Maxixmum voltage : 2000V 가능, ? Maximum current : 50A 측정 가능, ? Resolution : 0.1nA and 0.1mV, ? standard curves : MOSFET, IGBT, Diode, Zener, Triac 측정 가능 제작사 Scientific Test, Inc. 모델명 5000C 도입연도 2017-04-28 용도 고전압에서의 leakage current 및 Breakdown Voltage 측정, 저전압에서 turn on voltage 측정 <<12345678910