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장비 > Nano-Spec (Thin Film Thickness Measurement System)
Nano-Spec (Thin Film Thickness Measurement System) | |||||
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작성자 | jnsinc | 등록일 | 21-01-20 15:44 | 조회 | 411 |
제작사 | 엘립소테크놀러지 | 모델명 | Thin Film Thickness Measurement System | 도입연도 | 2005-12 |
용도 | 절연체 두께 및 반사율 측정 | ||||
? Detector Resolution : 1.7nm 미만 ? Thickness Range : 200? ~ 35um ? Detection Range : 400nm ~ 800nm ? Detector Speed : 4sec 미만 |
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첨부파일 |
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